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開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。

材料表面的功函數(shù)通常由*上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種*靈敏的表面分析技術。

掃描開爾文探針系統(tǒng) (SKP)：

SKP5050系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶所接收的高端掃描開爾文探針系統(tǒng)，它是在SKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置，其規(guī)格如下：

□ 2毫米，50微米探針；

□ 功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)，5-10 meV(50微米針尖)；

□ 針尖到樣品表面高度可以達到400納米以內(nèi)；

□ 表面勢和樣品形貌3維地圖；

□ 探針掃描或樣品掃描選配；

□ 彩色相機、調(diào)焦鏡頭、TFT顯示器和專業(yè)的光學固定裝置；

□ 參考樣品(帶相應的掃描開爾文探針系統(tǒng)的形貌)；

□ 備用的針尖放大器；

儀器特色：

□ 全球**臺商用的完全意義上的開爾文探針系統(tǒng)；

□ **分辨率的功函數(shù)和表面勢，**的穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性；

□ 非零**技術(Off-null，ON) ——ON信號探測系統(tǒng)在高信號水平下工作，與基于零信號原理(null-based，LIA)的系統(tǒng)相比，不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度；

□ 高度調(diào)節(jié)**技術 ——我們的儀器在測量和掃描時可以控制針尖的高度。因為功函數(shù)受樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調(diào)節(jié)意味著數(shù)據(jù)的高重現(xiàn)性且不會漂移；

□ 該領域內(nèi)，擁有**的信噪比；

□ 快速響應時間 ——測量速度在0.1-10秒間，遠快于其他公司產(chǎn)品；

□ 功能強的驅(qū)動器 ——選用Voice-coil(VC)驅(qū)動器，與通常的壓電驅(qū)動器相比，VC驅(qū)動器頻率要穩(wěn)定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作；

□ 所有開爾文探針參數(shù)的全數(shù)字控制；

應用領域：

吸附，電池系統(tǒng)，生物學和生物技術，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術，教育，光/熱散發(fā)，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術，Oleds，相轉(zhuǎn)變，感光染色，光伏譜學，高分子半導體，焦熱電，半導體，傳感器，皮膚，太陽能電池，表面污染，表面化學，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數(shù)工程學；

參考用戶：

吉林大學、哈工大、大連理工大學、湖南大學、浙江大學、復旦大學、華中科技大學、華南理工大學、合肥工大、中科院納米中心、中科院理化所、中科院高能所等...