粉體行業在線展覽
EQ-XRFIV-LD
面議
科晶
EQ-XRFIV-LD
4135
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簡便型原位元素分析X射線熒光光譜儀
型號:
EQ-XRFIV-LD
產品概述:
EQ-XRFIV-LD是一款方便簡潔型的X射線熒光光譜儀,與電腦及分析軟件配套使用可以對樣品元素進行原位分析。它可以快速簡單的對樣品成分進行分析(Ne到Pu)。該裝置具有高的靈敏度,可以在極低濃度下(ppm級)測量出樣品中所含的各元素。設備中的光譜分析軟件提供了強大的數據庫,可對各種復雜未知的樣品進行實時分析。
特征 |
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X射線源 |
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探測器 |
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軟件控制 |
? 樣品一般為塊體或薄膜 ? 可選擇自動模式進行連續或重復性的分析 |
DIY 系統(可選) |
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凈重 | 5.0 kg |
質量認證 |
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質保期 | 一年保質期,終生維護 |
操作視頻 | 操作視頻即將上線 |
應用注意事項 |
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2830 ZT
ON-p
EMIA-Pro
XPERT
K-365
SUPEC 7020
HL-N20
TrueX系列(手持式)
在線銅離子含量分析儀
Metorex C100
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