粉體行業在線展覽
面議
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L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列的開發是為了滿足國際學術和實驗室研究的需求。該系統可以測量固體、液體、粉末和膠體的熱膨脹系數。該系統的獨特設計保證了優異的精度、重復性和準確性。L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列適用于真空、氧化性和還原性氣氛中測量。
該系統可以用于單樣品,雙樣品或差示條件下測量,以獲得更高的精度或樣品通量。該膨脹儀可選機械和電子部件方便拆卸拆便于在手套箱中的測量使用。
利用自動壓力控制設備,根據研究需要,接觸壓力可以連續地在10—1000mN調整。利用此特性可以連續地選擇控制樣品膨脹或收縮整個過程中的接觸壓力。
可以測量以下的物理性質:
熱膨脹系數,線性熱膨脹,物理熱膨脹,燒結溫度,相變,軟化點,熱分解溫度,玻璃化轉變溫度。
配置 | 單桿或雙桿熱膨脹儀 |
溫度范圍 | -180—— 500/700/1000°C |
RT —— 1000/1400/1600/2000°C | |
加熱/冷卻速率* | 0.01 K/min up to 100 K/min |
樣品支架 | 熔融石英< 1100°C |
Al2O3< 1750°C | |
石墨 < 2000°C | |
樣品長度 | ≤50 mm |
樣品直徑 | 7/12/20 mm |
可調樣品壓力 | ≤1000 mN |
測量范圍 | 500/5000 μm |
分辨率 | 0.125 nm |
氣氛 | 還原性、惰性、氧化性, 靜態/動態 |
DTA計算 | 可選 |
電路板 | 集成式 |
接口 | USB |
* 取決于爐體
*價格范圍僅供參考,實際價格與配置等若干因素有關。如有需要,請撥打電話咨詢,我們定會將竭盡全力為您制定完善的解決方案。
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