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參考報價：

	面議	型號：	AFM5500M
品牌：	日立	產地：	日本
樣本：	【暫無】	信息完整度：
典型用戶：	0

1. 自動化功能

• 高度集成自動化功能追求高效率檢測

• 降低檢測中的人為操作誤差

  
  

2. 可靠性

排除機械原因造成的誤差

大范圍水平掃描

采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數據。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經常發生扭曲效果。
AFM5500M搭載了**研發的水平掃描器，可實現不受圓弧運動影響的準確測試。

高精角度測量

普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會發生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。

3. 融合性

親密融合其他檢測分析方式

通過SEM－AFM的共享坐標樣品臺，可實現在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結構，成分，物理特性等。

•     通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

•     石墨烯層數不同導致表面電位（功函數）的反差。

•      SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。

與其他顯微鏡以及分析儀器聯用正在不斷開發中。