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JEM-ARM300F GRAND ARM
面議
JEM-ARM300F GRAND ARM
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實現了世界**掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發的球差校正器,**加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界**的STEM-HAADF像分辨率。
實現了世界**掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器,**加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界**的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保證分辨率達到了****的58pm
采用JEOL自主研發的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。
ETA校正器 JEOL自主研發的12極球差校正器 ※選配件
ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
強大的冷場發射電子槍HyperCF300
標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
兩種物鏡極靴
為了支持用戶廣泛的需求,研發了兩種各具特點的物鏡極靴。
豐富的選購件
能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
大范圍的加速電壓設置
標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。
新開發的真空系統
新的排氣系統達到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,**限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
高穩定的鏡筒和樣品臺
整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上,把電氣穩定性和對環境的抗干擾能力提高到新高度。
JSM-IT500HR
JSM-7900F
JSM-7610FPlus
JSM-IT200 InTouchScope?
JCM-7000 NeoScope?
JSM-F100
JSX-1000S
JEM-ARM300F GRAND ARM
JEM-F200
JEM-2100Plus
JEM-3200FS
JED-2300T
YH MIP-0103型
P100
OPTM series
VX3000
AFM5500M
53X-C
Nanonics MV2500
JEM-ARM200F NEOARM
QDAFM
牛津儀器原子力顯微鏡
AFM5500M