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儀器特性及優勢

• XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉移

• 快速斷開式探頭，優化了固體和液體的測量

• 無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物

• 面向集中數據庫管理的網絡分析儀

• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內即可完成更換，不會影響性能

儀器簡介

XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規試驗、縮短產品滯留時間，*小化實驗室分析時間而設計的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實驗室反應監測，并作為中試過程應用的補充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設計允許其在苛刻危險的取樣環境中直接使用。

XDS NIR 技術不僅帶來了優越的分析性能，同時加快了了定標方法的研發，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉移。使用先進、界面友好、具有聯網能力的 Vision®軟件可以輕松實現鑒定、定性和定量等方法。按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成精準的分析。