粉體行業(yè)在線展覽
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直接聯(lián)系
北京理加聯(lián)合科技有限公司
美國(guó)
面議
824
2015年，美國(guó)ASD公司（現(xiàn)隸屬于荷蘭帕納科）推出FieldSpec 4地物光譜儀Hi-Res NG，將光譜分辨率提升至6nm，這進(jìn)一步提高了下一代高光譜成像傳感器的分析精度，是地物光譜儀器的一次重要變革。
更高分辨率的高光譜儀器可以協(xié)助用戶提高遙感分類應(yīng)用的精度，識(shí)別更多之前無(wú)法從高光譜圖像中獲取的點(diǎn)像元信息。為了充分發(fā)揮下一代傳感器的潛能，那么基于地面測(cè)量的光譜儀器必須滿足或者超越成像傳感器的光譜分辨率，如果分辨率達(dá)不到高光譜成像的要求，那么數(shù)據(jù)在后處理過(guò)程中會(huì)因插值而丟失重要的光譜信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光譜儀大大提升了光譜分辨率，正是為了滿足下一代高光譜成像系統(tǒng)（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的嚴(yán)格要求而設(shè)計(jì)。除了優(yōu)越的光譜分辨率，像所有ASD地物光譜儀一樣，F(xiàn)ieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR檢測(cè)器，在350nm到2500nm的全光譜范圍進(jìn)行1875波段（編碼通道）的檢測(cè)，從而提供*小的采樣間隔（采樣帶寬），確保可以檢出樣品*細(xì)微的光譜特征。
性能指標(biāo)
波長(zhǎng)范圍 | 350-2500 nm |
光譜分辨率 | 3 nm @ 700 nm 6 nm @ 1400/2100 nm |
采樣間隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm 1.1 nm @ 1001-2500 nm |
掃描時(shí)間 | 100 ms |
雜散光 | VNIR 0.02%， SWIR 1 & 2 0.01% |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | 0.1 nm |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | 0.5 nm |
**輻射 | VNIR 2 倍太陽(yáng)光， SWIR 10 倍太陽(yáng)光 |
通道數(shù) | 2151 |
檢測(cè)器 | VNIR 檢測(cè)器 (350-1000 nm): 512 像元硅陣列傳感器 SWIR 1 檢測(cè)器 (1001-1800 nm): InGaAs 檢測(cè)器， TE 制冷 SWIR 2 檢測(cè)器 (1801-2500 nm): InGaAs 檢測(cè)器， TE 制冷 |
輸入 | 1.5 m 光纖(25° 視場(chǎng)). 可選前置鏡頭改變視場(chǎng)角 |
等效噪聲輻射（外接光纖） | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm SWIR 1 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm SWIR 2 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm |
重量 | 5.44 kg |
校準(zhǔn) | 波長(zhǎng)， **反射率， 輻射度*， 福照度*.所有的校準(zhǔn)可NIST溯源. (*輻射定標(biāo)可選) |
電腦 | Windows® |
保修 | 一年整機(jī)保修（包含專家支持） |
產(chǎn)品咨詢
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