粉體行業在線展覽
粉體行業在線展覽
直接聯系
佳士科商貿有限公司
日本
面議
581
◆規格
▼UTS-2000
機種 | UTS-2000 | |
測量方式 | FT/IR 干渉膜厚測量法 | |
測量配置 | 反射、透過（選配） | |
樣品尺寸 | 20 × 20 ～ 1200 × 1200μm | |
顯示器 | 內置CMOS相機確認測量位置 | |
●測量范圍／精度 | ||
測量膜厚范圍 | 0.25μm～750μm（Siの場合） | |
測量膜厚再現性 | 0.005μm以下 (同一點繰返し測定時、Si の場合) | |
●XY樣品臺 | ||
距離 | 200mm×200mm | |
驅動分辨率 | 2μm | |
●數據處理部 | ||
對應OS | Windows 7 Professional | |
控制裝置 | JASCO光學管理器控制光學系統／控制XY樣品臺／控制搬送機（選配） | |
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
Metorex C100型
ARL? PERFORM'X
UV9600D
全譜直讀光譜儀
M5000 (PLUS)
