粉體行業(yè)在線展覽
面議
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復(fù)享ILASER系列激光波長(zhǎng)檢測(cè) | ||
專(zhuān)門(mén)針對(duì)工業(yè)&科研激光波長(zhǎng)與峰寬的快速檢測(cè)方案 | ||
復(fù)享光譜儀推出的iLaser激光波長(zhǎng)系統(tǒng)解決方案集合了激光收集探頭、高通率光纖和復(fù)享光譜儀為一體,具有檢測(cè)光譜 快速、方便、低雜散光,精確,譜段可擴(kuò)展的特點(diǎn),在高品質(zhì)譜儀產(chǎn)品中性?xún)r(jià)比非常高,符合中國(guó)工業(yè)和科研客戶(hù)的需要。用戶(hù)只需連接計(jì)算機(jī),就可以在10毫秒之內(nèi)檢測(cè)激光波長(zhǎng)及峰寬特性。 復(fù)享光譜儀測(cè)量激光波長(zhǎng)和強(qiáng)度主要是用兩類(lèi)光譜儀,PG4000高分辨光纖光譜儀和FX4000 微型光譜儀。PG4000高分辨光纖光譜儀能夠獲得較高的光學(xué)分辨率,非常適合測(cè)量半波寬較窄的連續(xù)性或者脈沖激光發(fā)光。對(duì)于大功率激光需要另外添加輻射積分器或余弦準(zhǔn)直鏡衰減過(guò)強(qiáng)的激光。 另外一款FX4000 主要針對(duì)測(cè)試激光對(duì)精度要求不那邊高并且預(yù)算較緊張的用戶(hù),但是使用FX4000 也同樣能測(cè)出較好的效果。 通過(guò)復(fù)享ILASER系列激光波長(zhǎng)檢測(cè) 可以測(cè)得激光主峰峰值和半波寬。 同時(shí),復(fù)享也為用戶(hù)提供豐富的附件,具體需要
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光譜儀平臺(tái)選擇 |
高級(jí)配置-PG4000 - PG4000 高分辨光譜儀 - 余弦矯正器 - 石英光纖 FIB-400-TA--VIS/NIR - Morph 光譜儀軟件 標(biāo)準(zhǔn)配置-FX4000 - FX4000 微型光譜儀 - 石英光纖 FIB-400-TA--VIS/NIR - Morph 光譜儀軟件 |
型號(hào) | 描述 |
iLaser200F | 深紫外靈敏,適用于200-540 nm波段范圍; |
iLaser300F | 適用于300-960 nm波段范圍,分辨率1 nm; |
iLaser660F | 適用于660-1000 nm波段范圍; |
產(chǎn)品參數(shù)
項(xiàng)目 | 值 |
光譜儀: | FX4000 |
檢測(cè)波段: | 380-720 nm |
分辨率: | 0.35 nm,F(xiàn)WHM |
波長(zhǎng)精度: | 0.12 nm |
像素尺寸: | 3648 px |
信噪比: | 300:1 |
積分時(shí)間: | 1-2000 ms |
接口: | USB2.0 |
光纖: | 高通石英光纖 |
雜散光: | 小于0.05%@600 nm |
供電: | USB供電,250 mA @ 5 VDC |
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產(chǎn)品咨詢(xún)
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