粉體行業在線展覽
面議
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儀器簡介:
太赫茲時域光譜分析(THz—TDS)
典型的THz時域光譜學系統如圖1。用亞皮秒的太赫茲脈沖透過樣品,再經一段對稱的自由空間后由探測器接收,測量由此產生的電磁場強度隨時間的變化(利用傅立葉變換獲得頻域上幅度和相位的變化量),進而得到樣品的信息。這樣的測量方法已經成功地用于氣體和有機材料的測量。
技術參數:
技術指標
光譜范圍:0.1-4.0THz
分辨率: <50GHz(傅立葉變換后)
動態范圍:>70dB(峰值處)
工作模式:透射或反射
測試距離:1-40cm
Thz發射端:光電導天線
Thz接受端:ZnTe晶體
軟件界面:Labview
通訊接口:USB2.0 & 藍牙
尺寸: 10.5”×6.25”×2.75”
重量: <4.2ibs
主要特點:
特點
緊湊的Thz發射及接收設計; 實時的光譜顯示,探測范圍4THz
快速掃描,達20Hz ;透射和發射工作模式
I/O端口,可外部控制; 抗振動結構設計
集成化設計,使用簡便 ;USB2.0及藍牙連接 ;可通過網絡遠程通訊
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
Metorex C100型
ARL? PERFORM'X
UV9600D
全譜直讀光譜儀
M5000 (PLUS)