透射彎晶譜儀，利用勞厄彎晶將不同能量的X射線衍射到記錄面上的不同位置，同時利用X射線成像板進行探測。該譜儀具有測譜能量范圍寬、光譜分辨?等特征，特別適用于激光與固體靶相互作用產生的特征能譜診斷。

產品介紹/ INTRODUCTION

透射彎晶譜儀，利用勞厄彎晶將不同能量的X射線衍射到記錄面上的不同位置，同時利用X射線成像板進行探測。該譜儀具有測譜能量范圍寬、光譜分辨?等特征，特別適用于激光與固體靶相互作用產生的特征能譜診斷。產品特點/ CHARACTERISTIC

● ?主彎晶器件

● ?能譜分辨

● 寬能譜范圍

● 可切換式探測模組

● 全譜直讀

● 可切換式激光準直系統

主要參數/ PARAMETERS

● 光學系統結構: 透射彎晶系統

● 分光器件： α-Quartz<10-11>

● 能量分辨率： 優于100eV@20keV

● 探測器類型： 可切換式IP板

● 激光器切換重復精度： ±10μm

測試數據/ TEST DATA

選配范圍(?持定制)