粉體行業在線展覽
面議
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技術參數:在大氣環境下:掃描隧道顯微鏡/ 原子力顯微鏡(接觸 +半接觸+非接觸)/橫向力顯微鏡/相位成像/力調制/力譜線/粘附力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯 微鏡/掃描電容顯微鏡/開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像/納米壓痕/刻蝕: 原子力顯微鏡(電壓+力)/壓電力模式/超聲原子力/外加磁場/溫度控制/氣氛控制等功能。
在液體環境下:原子力顯微鏡(接觸+半接觸+非接觸)/橫向力顯微鏡/相位成像/力調制/粘附力成像/力譜/刻蝕:
測量頭部:AFM和SPM可選配液相模式和納米壓痕測量頭
掃描方式:樣品掃描、針尖掃描、雙掃描
**樣品尺寸:樣品掃描:直徑40mm,厚度15mm。針尖掃描:樣品無限制
XY樣品定位裝置:移動范圍5×5um,精度5um
掃描范圍:90×90×9um(帶傳感器/閉環控制),可選配低電壓模式實現原子級分辨
XY方向非線性度:≤0.5%(帶傳感器/閉環控制)
Z方向噪音水平(帶寬1000Hz時的RMS值):閉環控制掃描器(典型值0.04nm,**0.06nm)
光學顯微系統:配備高數值孔徑物鏡后,分辨率可由3um提升至1um
樣品溫度控制:室溫~300℃