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產品介紹

SMPS+C掃描電遷移率粒徑譜儀（Scanning Mobility Particle Sizer）是一個納米顆粒粒徑譜分析系統，實驗室型由DMA+CPC5416組成檢測系統，19’機架式由DMA+CPC5420組成檢測系統，用于5nm ~ 1100nm的納米顆粒分析。GRIMM DMA符合Vienna型設計特征，對小顆粒物有**分辨率和*低分散損失，根據實驗需求不同，有兩種長度的電極。

圖 5420機架式CPC

測量原理

DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子電遷移器對顆粒物進行分類，噴嘴將粗的顆粒去除，減少大顆粒的干擾；同時建議前置個靜電中和器，消除對電荷對氣溶膠顆粒的影響。頂端入口U型設計，可減少顆粒損失；頂端層流器，使氣流呈層流狀態流動。潔凈干燥的鞘氣與樣氣氣流一起自上而下流動。

DMA的外套筒接地，中心極桿接正壓高壓發生器。環境顆粒中帶負電荷的顆粒將在外套筒與中心極桿之間的電場中發生遷移。在某一電壓下(對應一定的電場強度)，具有一定荷質比的負電顆粒將遷移至DMA下端狹縫而逸出，其余荷質比及其電中性、正電荷顆粒將隨過剩氣流被過濾排出。經由狹縫逸出的顆粒為單分散氣溶膠顆粒，進入CPC凝聚核粒子計數器（Condensation Particle Counters）對顆粒物進行計數。

圖 系統工作原理

粒徑范圍

DMA根據粒徑范圍不同可以分為L-DMA、M-DMA和S-DMA。

圖 差分粒子電遷移器DMA 圖 三種型號DMA

測試結果可靠

在2005年8月和9月加利福尼亞州中部Fresno，GRIMM儀器與其他品牌的SMPS系統通過測量環境氣溶膠進行測量結果比較。結果顯示GRIMM SMPS+C測量得到的粒子數濃度分布，與其他品牌測量得到的平均值相比，是可靠的。【Comparison of four scanning mobility particle sizers at the Fresno Supersite (Chow 2006)】

產品特征

粒徑總范圍5 ~ 1094 nm

濃度范圍可達到10⁷P/cm³

Vienna型DMA，L-DMA與M-DMA可互相切換

堅固可靠，丁醇安全特征（防水、除臭）

防溢出CPC飽和器設計

與軟件聯合使用，全自動；開機后自動自檢，保證高可靠性

氣象傳感器的模擬輸入

全面的自檢以實現**的可靠性

產品應用

基礎氣溶膠研究

吸入和暴露研究

環境和氣候研究

NP增長、凝結及遷移研究

過濾檢測

移動氣溶膠研究

工作場所監測

操作軟件

可用于納米顆粒檢測儀器的通用軟件，可以記錄測量數據和一系列完整的儀器參數。結果以圖表形式顯示，可以輸出為通用的文件格式。軟件將CPC作為計數器，差分電遷移分析儀（DMA）作為粒徑分級的氣溶膠發生器。實時進行數據處理，算法由Reischl教授（維也納大學）開發，符合計算粒徑分布的新標準ISO 15900。軟件顯示顆粒物數濃度、表面積和粒徑質量分布及其他統計參數。

技術參數