粉體行業在線展覽
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用途：SunScan標準版植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan冠層分析系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作（在接近中午的時候）。
特點：
·在植物冠層中測量入射和投射光量子（PAR）；
·直接顯示葉面積指數（LAI）；
·可在陰天使用，不需要考慮特殊的天氣條件；
·便攜和防雨設計，采用電池供電；
·數據可自動采集，采樣間隔時間1~24小時可選；
·單獨SunScan探頭可作為線性光量子傳感器使用，可直接連接數據采集器使用。
技術規格：
Sunscan探頭 | |
探測區域 | 長1米×寬13毫米，傳感器間距15.6毫米 |
光譜范圍 | 400~700nm（PAR） |
測量時間 | 120毫秒 |
讀數 | 2500 μmol.m-2.s-1 |
分辨率 | 0.3 μmol. m-2.s-1 |
線性 | 優于1% |
精度 | ±10% |
模擬輸出 | 1mV/μmol. m-2.s-1 |
通訊端口 | RS232，9針D型接口 |
防護等級 | IP65 |
工作溫度 | 0~60℃ |
尺寸 | 1300×100×130毫米 |
重量 | 1.7公斤 |
供電 | 4節AA堿性電池，可以使用1年 |
掌上數據管理器 | |
顯示屏 | 1/4 VGA防日光顯示屏 |
操作系統 | Windows Mobile 6 |
顯示選項 | 葉面積指數（LAI）、平均光合有效輻射、所有單個傳感器的讀數 |
防護等級 | IP67 |
工作溫度 | -30~+60℃ |
跌落高度 | 1.2米 |
供電 | 可充電電池，可連續使用12小時 |
內存 | >100MB可用 |
尺寸規格 | 165×95×45毫米 |
重量 | 450克 |
產地：英國
Email:
Shanghai@Dianjiangtech.com(上海)
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