粉體行業(yè)在線展覽
面議
499
用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。
渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應(yīng)線圈(使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達64個)。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術(shù)相比,渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢:
檢測時間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
提供檢測區(qū)域?qū)崟r圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。
極好地適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。
改進了檢測的可靠性和檢出率(POD)。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設(shè)計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,可快速有效地檢測缺陷。
分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
波幅、相位和位置測量。
可調(diào)彩色調(diào)色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應(yīng)。
-END-