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 2012年5月15-17日，作為中國比表面及孔徑分析儀的開創者和領航者，北京精微高博科學技術有限公司參加了中國儀器儀表行業協會主辦的級別最高、規模最大的盛會——第十屆中國國際科學儀器及實驗室裝備展覽會（CISILE 2012）。參加此次展會的還有島津、賽默飛世爾等全球知名企業。這次展會匯聚了行業精品，主要有國內外材料力學性能實驗設備、分析測試儀器、光學儀器、生化技術、質量控制等領域的先進技術及產品，全面展示了當今世界科學儀器產業界最新產品與尖端技術。

     參展期間，很多觀眾對JW-比表面及孔徑分析儀有濃厚興趣，不斷詢問儀器的技術參數、性能特點以及操作方法，加深了客戶對我公司產品的了解，也提升了我公司在國內的形象，起到了一定宣傳作用。此次參展活動，精微高博展出了表界面物性界最精良、最前沿的科技新品——JW比表面分析測試儀，最吸引觀眾眼球的是精微自主研發的JW-BF-270型比表面及孔徑分析儀，具有兩個獨立分析站，能同時分別測試微孔和介孔，重復性好，測試精度已趕超國際先進水平。

現場交流

     最值得一提的是，JW-BK122F型比表面及孔徑分析儀喜獲“自主創新金獎”，充分體現了國產比表面分析儀的自主創新能力和水平又邁上了一個新臺階。北京精微高博正是憑借自主創新能力取得了市場競爭力和國際影響力，會一如既往的堅持自主創新，提升研發水平，繼續為中國物性分析測試儀器事業的發展貢獻自身力量。

北京精微高博公司古燕玲總經理上臺領獎

自主創新獎