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SediGraph®Ⅲ Plus 全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀 |
SediGraph全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下,報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性
在過去的三十多年中,麥克儀器公司的SediGraph沉降粒度分析儀是全世界許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗(yàn)室,SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結(jié)果。粒徑分布的測量采用沉降法,顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律,通過測量粒子在液體中的沉降速率,得出粒子粒徑大小,粒徑分析范圍為0.1-300μm。
智能設(shè)計(jì)特色
SediGraph III Plus沉降粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計(jì)確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護(hù)更加簡單。并且能夠確保對同一樣品,在任意一臺(tái)SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性極高的結(jié)果。
簡化泵系統(tǒng),確保快速分析和易于維護(hù)
降低噪聲,提供更加安靜的工作環(huán)境
維護(hù)提醒裝置,根據(jù)總測試量,提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)
電腦控制混合室溫度,提高測試可重復(fù)性
Windows操作軟件,以太網(wǎng)連接,可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單,聯(lián)網(wǎng)工作,打印機(jī)選擇,剪切和粘貼等操作
多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng),能夠提供多種類型的報(bào)告,例如顆粒沉降速度和粒度(以Phi為單位)
多項(xiàng)功能
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BT-9300S
Winner2000B
online
S3500系列
Spraytec
ANALYSETTE 22 MicroTec plus
DP-02型
MET ONE FMS
HELOS-RODOS
NKT5200-H
LA-300 、LA-920
JZ-7