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Hysitron TS 77 Select™自動(dòng)化納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)具有**的性能、功能和易用性的臺(tái)式納米壓痕儀。這款新測(cè)試系統(tǒng)采用了布魯克**的 TriboScope 電容式傳感器技術(shù)，能可信地測(cè)試從納米到微米尺度上的機(jī)械和摩擦特性。TS Select 支持模式包括定量納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米磨損和高分辨率機(jī)械性能成像等功能。

Ts Select特性：

提供核心測(cè)試技術(shù)，包括納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米磨損和原位SPM成像通過電容式傳感器技術(shù)，使用靜電力驅(qū)動(dòng)同時(shí)提供高靈敏度和低溫漂具有高速納米壓痕功能，可快速對(duì)機(jī)械性能進(jìn)行成像，獲得具有統(tǒng)計(jì)性的結(jié)果使用直觀且易于使用的控制軟件，使操作人員能夠進(jìn)行可靠的測(cè)量系統(tǒng)預(yù)設(shè)了滿足ISO 14577和ASTM E2546標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試腳本具有系統(tǒng)自動(dòng)校正功能和多樣品自動(dòng)測(cè)試功能，更快地獲得結(jié)果