粉體行業(yè)在線展覽
AFM
面議
碩陽(yáng)
AFM
4361
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ,AFM),一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力極端敏感的微懸臂一端固定,另一端的微小針尖接近樣品,這時(shí)它將與其相互作用,作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí),利用傳感器檢測(cè)這些變化,就可獲得作用力分布信息,從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。
YH MIP-0103型
P100
OPTM series
VX3000
AFM5500M
53X-C
Nanonics MV2500
JEM-ARM200F NEOARM
QDAFM
牛津儀器原子力顯微鏡
AFM5500M