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RISE 顯微鏡® (RISE Microscopy®) 是全球**集成拉曼成像與掃描電子顯微鏡于一體的聯用系統，實現超精細表面形貌結構與分子化學信息的一一對應。整個 RISE 測試流程都在 SEM 真空腔進行，樣品完成拉曼測試后(或 SEM)， 可以自動轉移到 SEM 電子束(或拉曼)位置進行測試， 直觀連貫的測試流程， 易操作。

參數性能：

光譜重復性：<= +/-0.02 cm-1

空間分辨率： 橫向360 nm， 縱向900 nm

*低波數：100 cm-1

光譜分辨率：<=1 cm-1

光譜范圍：90-9000 cm-1

靈敏度：硅的三階峰信噪比優于20:1