粉體行業在線展覽
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上海如海光電科技有限公司
上海
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550
1. 產品簡介
XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松面陣背照式CCD， 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態范圍。可以廣泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測，光學檢測和材料檢測等領域。 XV400在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩定性，能夠應用于定性、定量檢測場景。
2. 產品外觀及結構圖
圖1 XV400正面圖 | 圖2 XV400側面圖 |
圖3 XV400尺寸圖
3. 產品特點
? 響應強度大：在檢測物質時光譜響應強度大；
? 分辨率高：分辨率<1.0nm@25μmslit；
? 良好的熱穩定性：光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃， 靈敏度偏差<2%。
4. 產品參數
產品參數 | |
尺寸： | 95×71×41mm |
重量： | ~350g |
探測器： | 濱松面陣背照式CCD |
波動范圍： | 180-430nm |
像素： | 2048 ×64 有效像素 |
光譜分辨率: | <1 nm@25μm狹縫 |
信噪比: | 450:1 |
A/D 采樣: | 16bit |
暗噪聲: | 55 RMS |
動態范圍: | 1200：1 |
積分時間: | 4ms-40 second |
連接器： | MiniUSB |
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