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Avio 200 電感耦合等離子體發射光譜儀
面議
譜賽斯
Avio 200 電感耦合等離子體發射光譜儀
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Avio? 200 系統能處理復雜的、未經稀釋的高基體樣品,為ICP帶來更為廣泛的應用范圍和強大的性能。而且,強大的性能并沒有影響其易用性。獨特的硬件特性與直觀易用的軟件相結合,使多元素分析變得與單元素分析一樣簡單。
作為一款在實現小型化的同時沒有損失性能的ICP,Avio 200 可通過以下性能,提供高效的操作、可靠的數據和低的運行成本:
? 現有 ICP 中超低的氬氣消耗
? 快速的 ICP 冷啟動速度(光譜儀從關機狀態啟動,在短短幾分鐘內即可準備就緒)
? 對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率
? 雙向觀測技術帶來寬線性范圍性能可靠、功能強大、經濟實惠,Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。
Avio 200 ICP 專為滿足和超越客戶具有挑戰性的需求而設計,憑借一系列專有的獨特功能,使您獲得更高的樣品通量,所取得的成本效益遠超以往。它有以下優勢:
超低運行成本
Flat Plate? (平板) 等離子體技術,Avio 僅需消耗其他系統一半的氬氣量,即可生成穩定、耐基體的等離子體,同時賦予您:
? 所有投資,物有所值
? 無需對傳統的射頻發生線圈進行冷卻和維護,提供出色的運行效率和生產力
另外,為了提高效率,珀金埃爾默儀器具有動態波長穩定(DWS)功能,在開機短短幾分鐘之后您就可以進行樣品分析,并在分析工作結束后關閉儀器電源以節約電能。
Avio 200 的操作需要 9升/分鐘的總氬氣流量,而其他系統則需要約15-21升/分鐘。
強大的雙向觀測功能
傳統的同步垂直雙向觀測系統在實現軸向、徑向雙向觀測時性能往往會受到影響。Avio 200 系統的雙向觀測功能,可測量波長范圍寬,不會造成光通量和靈敏度的損失。即使是吸收波長高于 500 納米或低于 200 納米的元素檢出限也可達ppb級別。
該 Avio 系統獨特的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍,確保實現:
? 更簡便的樣品制備過程,樣品溶液無需稀釋
? 高、低濃度可以在同一次運行中進行測量
? 更好的質量控制和更準確的結果
? 減少重復運行
Avio 獨特的垂直雙向觀測光學系統可確保寬的波長范圍和合適的檢測限。
集成等離子體觀測相機
可簡化您的開發方法,同時借助 Avio 200 系統的PlasmaCam? 技術,盡享遠程監控等離子體的便利。彩色相機可幫助您:
? 實時觀測等離子體
? 執行遠程診斷
? 查看進樣部件
借助 PlasmaCam,可輕松觀測等離子體及周圍的成分,以便開發方法和排除故障。
革新性 PlasmaShear 系統,可實現無氬干擾消除
為了消除軸向觀測的干擾,需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經濟。
其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量,Avio系統獨特的 PlasmaShear? 技術只需空氣即可,且無需采樣錐等需要特殊維護的部件。這是一個完全集成的、完全自動化的、能提供無故障軸向分析的干擾消除系統。
CCD 檢測器,可實現滿足需求的準確度和精密度
借助全波長功能,Avio 200 系統強大的電荷耦合器件(CCD)檢測器能不斷提供正確的答案。Avio 系統的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍,實時扣背景,實現出色的檢測精密度。在分析過程中,它還可以同時執行背景校正測量,進一步提高準確度和靈敏度。
帶有快速更換底座的垂直等離子體炬管,可實現滿足需求的基體耐受性
即使 ICP 正在運行,Avio 200 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節,可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同,具有以下特點:
? 一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管,旨在減少維護和破損的可能性
? 自動自對準,即使在拆卸后也能提供一致的采樣深度設置
? 兼容各種霧化器和霧室,可提高靈活性
相比傳統的螺旋線圈系統, Avio 的平板等離子技術能提供更緊湊、更強大、更穩定的等離子體。
Avio 的垂直炬管設計能提供更大的樣品靈活性并簡化維護。
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