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簡介

美國應用光譜公司 (Applied Spectra Inc.)專注研究激光剝蝕和光譜分析技術(shù)的高技術(shù)公司。 研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的研究人員。 公司總裁Richard Russo 博士為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的資深科學家， 從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術(shù)三十多年， 創(chuàng)造性的將激光剝蝕技術(shù) (Laser Ablation， LA) 及激光誘導擊穿光譜 (Laser Induced Breakdown Spectroscopy， LIBS)相融合， 研發(fā)了J200系列激光剝蝕進樣系統(tǒng)及光譜分析系統(tǒng)。

J200 納秒激光剝蝕進樣及激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)實現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時測量，并具備多種測量功能： 可測量常量， 微量和同位素 (與ICP-MS串聯(lián))；分析有機元素及輕元素； 元素三維空間分布；校正ICP-MS質(zhì)譜信號。主要用于地質(zhì)礦物，土壤，植物，合金，新能源材料 (例如鋰電池材料)， 刑偵證據(jù)等樣品的剝蝕進樣及化學成分分析。

J200 LA 激光剝蝕進樣系統(tǒng)可與市面上的四級杠質(zhì)譜儀， 飛行時間質(zhì)譜儀和高分辨質(zhì)譜儀串聯(lián)使用。

J200 LA 激光剝蝕進樣系統(tǒng)特色

高穩(wěn)定Q開關(guān)， 短脈沖Nd:YAG 激光 ，可選擇多波長 < 5 nsec at 213 nm ，創(chuàng)新的模組化設，為獨立 LA， LIBS， LA - LIBS 復合的系統(tǒng)設計 ，因分析需求，提供三種LIBS 檢測器選擇 ，激光剝蝕均勻且一致性的LA系統(tǒng)

自動樣品高度調(diào)整功能

J200激光剝蝕進樣系統(tǒng)采用ASI**技術(shù)：剝蝕導航激光和樣品高度自動調(diào)整傳感器相結(jié)合，解決了若樣品表面凹凸不平而剝蝕不均、導致元素含量值誤差大的問題；激光能量穩(wěn)定閥確保了到達樣品表面的激光能量均勻，使所有采樣點的激光燒蝕均勻一致；3-D全自動操作臺**行程可達100mmx100mmx36mm，XY行程分辨率0.2μm，Z行程分辨率0.1μm， 優(yōu)于其它任何同類產(chǎn)品

穩(wěn)定激光能量的光閘設置

高分辨雙CMOS相機系統(tǒng)， 可用于寬視野觀測樣品表面特征 應用光譜公司的 Flex 樣品室內(nèi)置氣體模組可優(yōu)化氣流和顆粒清潔能力，滿足不同測量要求，先進的微集氣管設計，可盡可能的減少排氣，防止集結(jié)剝蝕顆粒，消除記憶影響。

雙通道高精度質(zhì)量流量控制器和電子控制閥

Axiom LA 軟件系統(tǒng)

軟件可整合控制硬件組件及ICP-MS 同pu步操作，輕松實現(xiàn)繁雜的激光采樣與分析模式 ，強大的數(shù)據(jù)分析工具用于繁雜的 LA-ICP-MS 串聯(lián)光譜分析

靈活的分析方法：全分析，夾雜物分析，斑點分析，深度分析和元素分映像

維護成本低

可擴充升級LA – LIBS 復合系統(tǒng)

可擴充升級飛秒 LA 系統(tǒng)