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BKZEM-3
面議
BKZEM-3
213
熱力發(fā)電是一種通過(guò)熱電效應(yīng)材料產(chǎn)生電力的方法,由J.T.Seebeck德國(guó)物理學(xué)家在1821年發(fā)現(xiàn)的。面對(duì)當(dāng)前的全球由二氧化碳排放以及化學(xué)材料消耗而導(dǎo)致的溫室效應(yīng),熱電轉(zhuǎn)變器件引起了注意,因?yàn)榭梢杂行Ю糜酂帷榱擞线@種急迫的需求公司為這些材料和器件開發(fā)了特性評(píng)估裝置。
+ 擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器;
+ 測(cè)量是由計(jì)算機(jī)控制的,并且能夠在指定的溫度下執(zhí)行測(cè)量,并允許自動(dòng)測(cè)量消除背底電動(dòng)勢(shì);
+ 歐姆接觸自動(dòng)檢測(cè)功能(V-I圖);
+ 可以用適配器來(lái)測(cè)量薄膜;
+ 可定制高阻型。
測(cè)試原理:
樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過(guò)下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度,同時(shí)將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測(cè)量是通過(guò)測(cè)量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1,T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動(dòng)勢(shì)dE來(lái)確定的。
電阻測(cè)量采用直流四端法,通過(guò)在樣品兩端施加恒定電流I,測(cè)量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV,并去除引線之間的熱電動(dòng)勢(shì)來(lái)確定。
電阻測(cè)量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評(píng)估。作為ZEM的特點(diǎn),塞貝克系數(shù)(seebeck)和電阻都可以用一種儀器來(lái)測(cè)量。該系統(tǒng)可用于對(duì)于半導(dǎo)體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的熱電性能分析。
主要技術(shù)參數(shù):
溫度范圍: 室溫-600℃,800℃ ,1000℃多種范圍可選擇
溫度設(shè)定范圍:測(cè)溫步數(shù)和溫度采樣測(cè)量步數(shù):**125步
測(cè)量方法 :溫差電動(dòng)勢(shì):靜態(tài)直流法
電阻率:四電極法
氣氛: 氬氣或氮?dú)?/span>
樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm,長(zhǎng)6~22 mm(**)
導(dǎo)線間距:4,6,8 mm
電源供應(yīng):200 VAC,單相,40 A(M8,M10規(guī)格)
100 VAC,單相,20 A(L規(guī)格,M8和M10規(guī)格)
冷卻水需求:自來(lái)水,水壓大于1.5 kgf/cm2,流量大于7 L/min
樣品溫差:MAX.50℃
測(cè)量方式:電腦全自動(dòng)測(cè)量
DLQL-1700
LSR-3
BKZEM-3
WLDR-1000
JKZC-ESAM6000
TPS-1000
PZT-1000
LDGM-501
CGN-1000
HVLT-600
HTRT-2000
SPEX-8000D
方盤量程200g精度0.1g
庫(kù)賽姆(COXEM)EM-30超高分辨率臺(tái)式掃描電鏡
智能微波多普勒開關(guān)
Nanotron
LUGB
HZDL-ZC9A
BYQ3110PK
WLDR-1000
ICS-17電子皮帶