粉體行業(yè)在線展覽
MRS-OM40
面議
MRS-OM40
136
鎂伽全自動 〇verlay 量測設備 MRS-OM40,適用于光刻制程單面、雙面、紅外 Overlay 自動量測,配置可見光和紅外光顯微成像系統(tǒng),具備高速、高精度、多功能量測能力,是 MEMS 晶圓廠、芯片制程黃光區(qū)進行產品良率管理的關鍵設備。
方盤量程200g精度0.1g
庫賽姆(COXEM)EM-30超高分辨率臺式掃描電鏡
智能微波多普勒開關
Nanotron
LUGB
HZDL-ZC9A
BYQ3110PK
WLDR-1000
ICS-17電子皮帶