粉體行業在線展覽
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D8 ADVANCE---剖析藏在樣品中秘密
X射線衍射(XRD)是一種理想的、非破壞性的、可應用于大部分類型樣品的無損分析方法!
X射線衍射可用于晶相的確定,含量檢測以及原子結構的測定。樣品用量少,消除了可能產生的樣品物相被破壞和性質改變的風險。
在實際應用中,對除X射線衍射外的其他方法,復雜組分樣品的測量一直是一個艱巨的挑戰。對于X射線衍射,衍射圖譜中所有的細節信息都是有價值的,且會被考慮到,并*終使樣品表征充分。
衍射圖譜由峰位置、強度和峰形組成,它代表了樣品的獨有特征。利用這些衍射信息,可推斷出樣品的性質,同時獲取如下的信息:
從粉末到薄膜輕松的切換---TWIN/TWIN!
試想以下各種不同應用的切換:物相分析和反射率分析(XRR)、掠入射(GID)和微區衍射、小角散射(SAXS)和透射、殘余應力和結構解析,是否可以不用手去更換這些精密的光學元件,就準確地完成呢?
Yes!我們可以! 因為我們D8 ADVANCE達芬奇設計擁有:TWIN/TWIN技術!
點線焦斑的切換,不再是問題---TWIST TUBE
現在,有了光管旋轉技術---布魯克AXSzhuan利技術,點線焦斑的切換不再困難,方便自如!
您只需要:松動固定的螺絲,旋轉管投至確定的位置,然后旋緊螺絲,OK!達芬奇模式處理剩余的問題,自動識別,自動調整。
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M