粉體行業在線展覽
面議
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產品說明、技術參數及配置
這是先達公司為實現現場多元素快速分析,在臺式熒光分析儀基礎上專門開發的一款便攜式X熒光多元素分析儀器。采用進口的高分辨率電制冷半導體探測器、以進口微型X光管為激發源,在國內**采用了“多參量自動分類”**技術,具有模式識別功能,可以對復雜類型樣品自動分類和進行多元素精確分析。能直接分析塊狀、粉狀樣品。體積小,重量輕,內置鋰電池,章上電腦操作,帶藍牙和GPS功能,一臺設備相當于一個流動化驗室,不僅適用而且很時尚,是真正的戶外檢測專家。
適用范圍
適用于電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)現場快速檢測。
型號:CIT-3000SMP
性能特點
采用數字化譜分析技術,計數率高,無漏計,穩定性好;
激發源采用進口x光管,無放射源,環保、安全可靠;
采用進口半導體電制冷探測器,分辨率高,分析元素多,一次性可以分析20種元素;
軟件具有模式識別功能,對不同類樣品可以自動分類,自動選擇分析模式,一鍵式操作,準確可靠;
采用品牌PDA,中文操作系統,可以在PDA內進行數據編輯,海量存儲器,工作時間長。一次充電可全負荷工作8小時,帶有導航系統,適合野外等條件操作;
帶藍牙功能,可以實現遙控測量,方便實用;
裝有紅綠指示燈,綠燈表示電源已打開,紅燈表示有射線,使用安全可靠;
可以直接分析塊狀、粉狀樣品,也可壓片測量;
儀器一體化設計,性能穩定,運行可靠,性價比高;
全中文應用軟件,操作簡單,測量時間短。
技術指標
采用1024道多道分析器
分析元素:S-U等
采用Si(Li)半導體探測器,能量分辨率高:優于150eV(55Fe)
儀器的分析精度:標準偏差≤0.08%
分析范圍:0.001%-99.99%
*低檢出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm;
測量范圍:2-30kev
測量時間:<200秒
整機功耗:4W
儀器重量:1.75Kg
儀器配置
品牌PDA(帶有GPS和藍牙功能)
內置大容量鋰離子電池
進口一體化封裝微型X光管
進口電制冷半導體探測器
便攜式充電器
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M