粉體行業在線展覽
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上海澤泉科技股份有限公司
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PSC成立于2004年，2年后其首款產品植物根系X-光掃描成像分析系統RootViz FS面世，并于今年6月獲得2006年度美國R&D 100大獎。RootViz FS是在美國能源部創新項目資助下研發成功的一套新型、高效率、高精度、非破壞性的測量系統，用于對盆栽植物的根系進行原位成像分析，可以拍攝根系的立體X-光照片。是繼根視系統后植物根系研究領域*激動人心的發明。美國R&D 100大獎被稱為"發明界的奧斯卡獎"，RootViz FS剛一面世即獲此大獎，足見其影響力之大。
這套系統是植物根系研究領域繼根視（rhizotron）系統（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系統）后*激動人心的發明。根視系統需要將根取出清洗后，借助掃描儀進行分析，這個過程往往會折斷植物的根尖等脆弱部分，而且屬于離體分析，不能進行動態監測。而植物根系X-光掃描分析系統是非破壞性的原位分析系統，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生長的不同階段對根系的生長進行長期動態監測。這套系統非常適合于研究植物根系對脅迫的動態響應。
根系X-光成像的特性
* 高分辨率的X-光立體成像
* 進行長期動態監測
* 獲得原位根系角度信息
* 完全可控條件下的生理、病理實驗
* 大規模快速篩選根系突變株
根系X-光掃描成像系統的主要技術參數
* X-射線發生器: 25KeV@800uA
* X-射線數碼相機: 2002 x 2054 CMOS；GdOs Scintillator
* 精確的三維調節工作臺
* 速度：平面圖25株/h；立體圖15株/h
* 范圍：**根長0.6 m；**高度2.1 m
* 分辨率：2002×2054像素
