粉體行業在線展覽
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X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺,用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設備。
XDV-SDD設計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動的Z軸升降臺。當具有防護功能的測量門開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點,可以快速對準需要測量的位置。儀器內置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統,簡化了樣品放置的過程,并可對測量點位置進行精確微調。
所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
XDV-SDD*多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的24 種元素
測量門向上開啟的臺式儀器,側面開槽設計
馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺
馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片。
儀器配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管,三擋可調節高壓,6個可切換的基本濾片。
可按要求,提供額外的XDV 型產品更改和XDV 儀器技術咨詢