粉體行業在線展覽
單晶片系統
面議
PVA TePla
單晶片系統
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GIGAfab M等離子系統
GIGAfab M等離子系統可用于具有更嚴苛要求和特殊等離子源的應用中,適用于半導體行業等多個領域。基板由手工裝載到工藝室,從單個**到 300 mm晶圓(也包含薄膜減薄)到少數幾片更小的晶圓。均勻性高達 5% 的平面源用于去除光刻膠(通過 300 mm晶圓測量)。或者,在遠程操作中,徑向源可用于蝕刻硅并減少薄晶圓或組件上的應力。
等離子系統 GIGAfab M的優勢及相關設備:
配備帶拉出式工作臺的工藝室
晶圓支架安裝在內部,可根據應用進行加熱或冷卻
或者,帶有冷卻回路和冷卻單元的系統,溫度范圍為 20 °C 至 95 °C(用于蝕刻硅或去除 SU-8)或高達 300 °C 的電加熱系統,可選空氣冷卻配置以實現穩定的工藝范圍在 60 °C 和 300 °C 之間
系統控制基于帶觸摸屏的PC系統,使工藝過程可以在手動和自動多步操作中運行。該標準系統包含一個用于穩定過程壓力的控制閥,以及兩個帶自動流量控制器 (MFC) 的氣體管道;另外也可選配額外兩個氣體管道。
PlasmaPen? 大氣式等離子系統
PlasmaPen? 大氣式等離子機
射頻等離子機
IoN系列等離子系統
條形等離子系統 80 Plus
批量封裝處理系統 等離子系統 GIGA690
單晶片系統
GIGAbatch 310M等離子系統
SAM 大視場掃描系統
PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡
VPD量測系統
雷射量測系統
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
配料計量系統
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
片式電容四參數測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀
QY型高純石英砂檢測儀