粉體行業在線展覽
JSX-1000S
面議
JSX-1000S
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JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等。 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
操作簡便
只需安裝樣品,和觸摸屏幕。觸摸操作還可以進行分析結果與譜圖的顯示切換,操作快感如同使用平板電腦和智能手機一般(利用鍵盤、鼠標也能操作)。
安裝 & 觸摸 操作簡單
GUI界面簡明易懂,操作直觀。
高靈敏度&高通量
JEOL 新開發的SDD( 硅漂移檢測器) 和新設計的光學系統及可以支持整個能量范圍的濾波器使高靈敏度的分析成為可能。安裝樣品室真空排氣單元( 選配項) 對輕元素可以提高檢測靈敏度
整個能量范圍內的高靈敏度分析
使用濾波器(*多9種*) 和樣品室真空排氣單元能夠在整個能量范圍內進行高靈敏度的分析。
* Cl、Cu、Mo、Sb 為選配項
微量元素檢測實例(10ppm以下)
提供解決方案
解決方案應用軟件能根據預先登錄的菜譜自動執行所希望的測試分析。
只需從解決方案應用軟件的列表中選擇目標解決方案的圖標,就能輕松獲得分析結果,可為各種行業提供簡化的分析。
新開發的智能FP(基本參數法)法,不需要準備標樣,并且能自動進行殘留成分和厚度的校正, 獲得高度準確的定量結果。
(殘留成分和厚度校正功能只支持有機物樣品)
厚度 | 校正 | Cr | Zn | Cd | Pb | 自動平衡 |
0.5mm | 無 | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
0.5mm | 有 | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
標準值 | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 |
(mass%)
JSM-IT500HR
JSM-7900F
JSM-7610FPlus
JSM-IT200 InTouchScope?
JCM-7000 NeoScope?
JSM-F100
JSX-1000S
JEM-ARM300F GRAND ARM
JEM-F200
JEM-2100Plus
JEM-3200FS
JED-2300T
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃譜
EMIA-820V
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
UNI800B
電磁波波譜濃度儀
略