粉體行業在線展覽
HM-S100半自動檢測系統
面議
立儀
HM-S100半自動檢測系統
527
1、非接觸光學測量系統。 2、應對各種材質,重復測量精度≦0.5μm。 3、高速采樣,*快周期20μs。 4、強大的CPK統計功能。 5、吸附系統及高精度位移系統。 6、測量輪廓、斷差、槽深、高度等。
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃譜
EMIA-820V
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
UNI800B
電磁波波譜濃度儀
略