粉體行業在線展覽
EIGER2 R
1萬元以下
DECTRIS
EIGER2 R
659
產品名稱:EIGER2 R-瑞士DECTRIS混合像素光子計數X射線探測器
品牌:德科特思(DECTRIS)
產地:瑞士
1、產品特點:
在DECTRIS公司所有應用于實驗室的探測器產品系列中,Eiger2R系列探測器結合了所有混合光子計數探測器的先進技術。 它所具有的雙能量識別有助于在微弱信號和長時間曝光的條件下進行背景抑制和提高信噪比。其優越的計數率性能可以準確地測量高強度的X射線。利用該系列探測器的巨大動態范圍,可以在零死時間同步讀/寫的狀態下進行長時間曝光。由于具備可選擇的真空兼容性,從而使空氣和窗口所產生的吸收和散射小化。小尺寸像素與X射線直接探測相結合,提高了空間分辨率和角度分辨率,可以在極其廣闊的倒易空間內進行精細的測量樣品。可以在三種不同的型號中進行選擇以滿足您的需求。
2、核心優勢:
–雙能識別有助于抑制低能量和高能量的背景
–由于零背景噪音和同時讀寫,所以具有很高的動態范圍
–小尺寸像素和點擴散函數有助于獲得高的空間分辨率
–可定制在真空環境下使用;
–免維護
3、應用領域:
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS);
- 大分子晶體學(MX);
- 化學結晶學;
- 單晶衍射(SCD);
-粉末衍射(PD);
- X射線成像;
- 表面衍射;
- 漫散射。
技術參數:
EIGER2 R | 250K | 500K | 1M | 4M |
探測器模塊數量 | 1 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積:寬x高 [mm2] | 38.4 x 38.4 | 77.2 x 38.6 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | |||
點擴散函數 | 1 pixel | |||
能量閾值 | 2 | |||
閾值范圍(KeV) | 3.5-30 | |||
計數率(cps/mm2) | 6.9×108 | |||
計數器深度(bit/threshold) | 2×16 | |||
幀速率 [Hz] | 50 | 50 | 100 | 20 |
采集模式 | 同時讀/寫,死區時間為零 | |||
圖像位深度(bit) | 32 | |||
可選真空兼容 | Yes | |||
冷卻方式 | 風冷 | 風冷 | 水冷 | 水冷 |
尺寸(WHD)[mm3] | 100 x 140 x 93 | 100 x 140 x 93 | 114 x 133 x 240 | 235 x 235 x 372 |
重量 [kg] | 1.8 | 1.8 | 4.7 | 15 |
北京優納珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中國地區同步輻射和科研實驗室總代理。負責DECTRIS(德科特思)產品在中國軟硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探測器參數。公司擁有專業的銷售、服務團隊,為您提供產品咨詢、設備安裝、設備維護等專業的一站式服務。公司秉承提供一流的產品、精湛的技術與良好的服務態度,本著“信譽**、客戶至上”的原則,竭誠為您服務。詳情請致電400 188 9798或登錄網址了解更多信息。
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