粉體行業(yè)在線展覽
PILATUS3 R CdTe
1-5萬元
DECTRIS
PILATUS3 R CdTe
1288
產品名稱:PILATUS3 R CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子計數(shù)X射線探測器
品牌:德科特思(DECTRIS)
產地:瑞士
1、產品特點:
PILATUS3 R CdTe系列結合了無噪聲單光子計數(shù)的優(yōu)點和在大型碲化鎘(CdTe)傳感器中直接檢測硬X射線的優(yōu)點。
與閃爍體的檢測器相比,混合像素中的直接檢測產生更銳利的信號和更好的空間分辨率。 CdTe為Mo,Ag和In輻射提供接近100%的吸收效率。結合無噪聲單光子計數(shù),這將實驗室中的X射線檢測帶入了一個新的靈敏度和準確度水平。
實驗室中的X射線源,尤其是硬X射線的X射線源比同步加速器弱得多,因此需要較長的曝光時間并導致較弱的信號,由于沒有暗電流和讀出噪音,PILATUS3 R探測器超過了實驗室的所有其他技術。單光子計數(shù)不含所有其他噪聲源以及CMOS電容檢測器內置的不準確性,例如復位噪聲和非線性電荷響應。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了較快的計數(shù)能力,結合精確的計數(shù)率校正提供寬泛的線性范圍,完全兼容所有實驗室應用和先進的X射線源。
具有挑戰(zhàn)性的實驗室應用(如電荷密度研究和配對分布函數(shù)分析)依靠硬輻射和具有出色信噪比的數(shù)據(jù),PILATUS3 R CdTe探測器系列提供了高效直接探測和無噪聲單光子計數(shù)的組合,并且是實驗室中這些要求的更高匹配。
2、核心優(yōu)勢
- Mo,Ag和In量子效率> 90%
- 直接檢測清晰的空間分辨率
- 沒有讀出噪音,也沒有黑暗信號達到較高精度
- 高動態(tài)范圍
- 熒光背景抑制
- 計數(shù)率
- 同步輻射級別的輻射硬度
- 免維護運行
- 高可靠性:沒有容易發(fā)生故障的密封,無需冷卻至室溫以下
3、應用領域
- 電荷密度分析
- 對分布函數(shù)(PDF)分析
- 高分辨率化學結晶學
- 高壓/高溫XRD
- 關鍵尺寸SAXS
- 計算機斷層掃描(CT)
- 無損檢測(NDT)
技術參數(shù):
PILATUS3 R CdTe | 1M | 300K | 300K-W | 100K |
探測器模塊數(shù)量 | 2 × 5 | 1 × 3 | 3 × 1 | 1 × 1 |
有效面積:寬×高 [mm2] | 168.7 x 179.4 | 83.8 × 106.5 | 253.7 x 33.5 | 83.8 x 33.5 |
像素大小 [μm2] | 172 x 172 | |||
總像素數(shù)量 | 981 x 1043 | 487 × 619 | 1475 × 195 | 487 x 195 |
間隙寬度, 水平/垂直(像素) *每個模塊之間水平間隙增加1個像素 | 7* / 17 | - */ 17 | 7* / - | -* / - |
非靈敏區(qū) [ % ] | 7.8 | 5.7 | 1.1 | 0.2 |
缺陷像素 | < 0.1% | |||
幀頻 [Hz] | 5 | 20 | 20 | 20 |
讀出時間 [ms] | 7 | |||
點擴散函數(shù) | 1 pixel(FWHM) | |||
計數(shù)器深度 | 20 bits(1,048,576 counts) | |||
功耗 [W] | 165 | 30 | 30 | 30 |
尺寸(WHD)[mm3] | 265 x 286 x 455 | 158 x 193 x 262 | 280 x 62 x 296 | 114 x 69 x 118 (探頭) |
重量 [kg] | 25 | 7.5 | 7.0 | 0.9(探頭) |
模塊冷卻 | 水冷 | 水冷 | 水冷 | 水冷 |
外接觸發(fā)電壓 | 5V TTL | 5V TTL | \ | \ |
北京優(yōu)納珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中國地區(qū)同步輻射和科研實驗室總代理。負責DECTRIS(德科特思)產品在中國軟硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探測器參數(shù)。公司擁有專業(yè)的銷售、服務團隊,為您提供產品咨詢、設備安裝、設備維護等專業(yè)的一站式服務。公司秉承提供一流的產品、精湛的技術與良好的服務態(tài)度,本著“信譽**、客戶至上”的原則,竭誠為您服務。詳情請致電400 188 9798或登錄網址了解更多信息。
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