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ParticleX TC
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飛納
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Phenom ParticleX 全自動汽車清潔度分析系統取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。
ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統
產品簡介
汽車行業越來越關注 SiO2、Al2O3 等硬質顆粒的影響,傳統的清潔度分析方法(重量法和光鏡法)只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息,而不能全面分辨顆粒的污染源。ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。
飛納Phenom ParticleX全自動汽車清潔度分析系統以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎,可以全自動對顆粒或雜質進行快速識別、分析和分類統計,為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。該過程完全符合ISO 16232 和 VDA 19 要求。
傳統的清潔度分析方法(重量法和光鏡法)只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息,而不能全面分辨顆粒的污染源。
Phenom ParticleX 取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。
借助 Phenom ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統,只需一鍵,即可自動分析 4 片直徑 47mm 的濾膜,并且自動生成報告,更有效率地監控過程清潔度。
ParticleX TC 汽車清潔度分析系統功能
· 以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎
· 全自動顆粒識別、分析和分類統計
· 無需人員值守,可連續運行
· 一鍵生成報告
· 輕松對重點顆粒重新查看和分析
ParticleX TC 汽車清潔度分析系統使用特點
l 顆粒粒度分布——全面的顆粒粒度范圍
l 顆粒形貌分析——多種測量方法可供選擇
l 雜質顆粒檢測——可檢測出數千顆粒中夾雜的微量雜質顆粒
l 高分辨率成像——8nm分辨率
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿