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FT-IR 光譜輻射應(yīng)用
光譜輻射計(jì)量應(yīng)用 從科學(xué)研究到可部署的解決方案,傅立葉變換紅外(FT-IR)光譜輻射計(jì)量技術(shù)已經(jīng)成為發(fā)展和增強(qiáng)不同軍事應(yīng)用的理想技術(shù)。在國防工業(yè)領(lǐng)域,F(xiàn)T-IR光譜輻射計(jì)量技術(shù)應(yīng)用于: − 偽裝系統(tǒng)開發(fā)和紅外隱身; − 飛機(jī)發(fā)動機(jī)熱輻射特性的分析檢測; − 紅外誘餌發(fā)射光譜和先進(jìn)對抗系統(tǒng)的開發(fā)、分析和改進(jìn); − 逸散性排放分類,用于紅外輻射特性數(shù)據(jù)庫的開發(fā); − 戰(zhàn)場爆炸波分類,其中包括炸彈爆炸、炮口焰和導(dǎo)彈發(fā)射; − 開發(fā)多種可部署的偵察解決方案對戰(zhàn)場情況進(jìn)行遠(yuǎn)程遙感。 這種**的創(chuàng)新型技術(shù)擴(kuò)展了工程模型的應(yīng)用。它還用于改善不同類型的紅外發(fā)射源。FT-IR成像光譜輻射計(jì)可為紅外發(fā)射源建模和輻射場的時空演變提供關(guān)鍵信息數(shù)據(jù)。 結(jié)合成像光譜輻射計(jì),用帶有反演算法的輻亮度測量可以對各種大氣應(yīng)用進(jìn)行成像,例如: − 氣象湍流探測; − 大氣成分分析; − 化學(xué)云的遠(yuǎn)距離探測。 技術(shù) 在傳統(tǒng)的單像束FT-IR光譜輻射儀具有無可比擬的性能(如更高的光譜分辨率和在整個視場(FOV)內(nèi)更好的靈敏度)的同時,多像素FT-IR超光譜成像儀則進(jìn)一步拓展了紅外特性的探測能力。通過空間解析所觀察場景的關(guān)鍵特性,可能提供精確的目標(biāo)空間譜信息。 通過結(jié)合場景的光譜和空間譜信息,采集到的數(shù)據(jù)將得到進(jìn)一步的應(yīng)用。因此,F(xiàn)T-IR成像光譜輻射計(jì)具有生成3D圖像的獨(dú)特功能(2D空間圖像+Z向的光譜信息),其中每個像素點(diǎn)具有其所對應(yīng)空間場景的譜信息。 |
ABB在光譜技術(shù)領(lǐng)域擁有35年的創(chuàng)新史,是公認(rèn)的世界***,目前正在通過其新開發(fā)的FT-IR超光譜成像光譜輻射計(jì)擴(kuò)展其遙感產(chǎn)品系列。MR-i具有以下特點(diǎn): 成熟、堅(jiān)固的設(shè)計(jì) MR-i是一款商用/商業(yè)級FT-IR成像光譜輻射計(jì),以ABB Bomem MR系列光譜輻射儀為基礎(chǔ),核心其設(shè)計(jì)采用了與MR304/MR170相同的無阻尼、堅(jiān)固的4端口干涉儀結(jié)構(gòu)。 雙相機(jī)配置 MR-i是首款能同時具有中波紅外成像和長波紅外成像的商業(yè)級FT-IR超光譜成像光譜輻射計(jì)。MR-i 4端口干涉儀能夠同時容納兩種不同類型的相機(jī)模塊(如MWIR/LWIR)組合,擴(kuò)展了儀器的光譜覆蓋范圍,或可集成兩個相同的相機(jī)模塊(如MWIR/MWIR),擴(kuò)展了儀器的動態(tài)范圍。憑借這種獨(dú)特的特性,MR-i能夠同時采集并精確同步兩個可互換的相機(jī)模塊的數(shù)據(jù),使儀器能夠同時進(jìn)行復(fù)雜輻射場景的測量。 配置兩個探測模塊的MR-i就如同在一個儀器中融合兩個成像光譜輻射儀的功能,具有以下好處: − 兩個相機(jī)的精確同步; − 兩個相機(jī)的光軸一致; − 通過一個用戶界面輕松操作; − 降低了購置成本; − 降低了維護(hù)成本 | 靈敏度/擴(kuò)展的動態(tài)范圍 某些應(yīng)用,例如目標(biāo)紅外輻射特性,常常需要同時測量場景中隨機(jī)分布的高、低強(qiáng)度發(fā)射源。每個探測模塊的信噪比性能受到相機(jī)積分時間的影響。根據(jù)亮點(diǎn)(hot pixels)的能量級別設(shè)置積分時間將對場景中的暗點(diǎn)(cold pixels)產(chǎn)生負(fù)面影響。另一方面,預(yù)設(shè)暗點(diǎn)**信噪比的積分時間將導(dǎo)致亮點(diǎn)飽和。 MR-i對于目標(biāo)紅外輻射特性的定量測量與分析提供了****的靈敏度。利用相同光譜范圍(MWIR-MWIR或LWIR-LWIR)的兩個探測模塊配置在兩個輸出端口,它們能夠分別設(shè)置不同的增益或積分時間,以擴(kuò)展儀器的動態(tài)范圍。這大大改善了對于場景中*明亮和*暗淡的區(qū)域的定量監(jiān)測。 |
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
ParticleX TC
觀世
在線濁度計(jì)
SuperSEM
SJ6000
CELL PAT
FS500全譜直讀光譜儀
OES1000