粉體行業(yè)在線展覽
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以*小的投入獲得專家研究級的結(jié)果。Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)是一種完全集成式單色小光斑 XPS 系統(tǒng),具備深度剖析能力。先進(jìn)的性能、更低的擁有成本、更高的易用性以及緊湊的尺寸,使 K-Alpha X 射線 XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。
旨在提高從研究應(yīng)用到常規(guī)應(yīng)用的生產(chǎn)率
K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能大大提升。這個巨大的進(jìn)步可實現(xiàn)更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數(shù)據(jù)以實現(xiàn)更好的化學(xué)狀態(tài)鑒定。
分析選項包括復(fù)合型離子源、一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉(zhuǎn)移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊,以及用于收集 ARXPS 數(shù)據(jù)的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)(全面的表面分析軟件系統(tǒng)),K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能,專為優(yōu)化數(shù)據(jù)解讀、數(shù)據(jù)報告和可用性而設(shè)計。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經(jīng)驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求,將高性能單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結(jié)合在一起。
強(qiáng)大的性能
可選面積能譜分析
濺射深度剖析
微聚焦單色器
快照采集
高分辨率化學(xué)狀態(tài)能譜分析
絕緣樣品分析
定量化學(xué)成像
無以倫比的易用性
采集——能譜、圖像、剖析、線掃描
解讀—— 元素和化學(xué)狀態(tài)鑒定
處理—— 定量、分峰擬合、實時剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學(xué)/XPS 圖像疊加
報告—— 自動生成報告且可輕松導(dǎo)出到其他軟件包
控制——所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進(jìn)行控制
Avantage Indexer——數(shù)據(jù)存檔索引
審計跟蹤記錄
系統(tǒng)性能記錄
按需校準(zhǔn)
完全的遠(yuǎn)程操控
主要特點(diǎn)
分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器,配備 128 通道檢測器
X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器,可變光斑尺寸(30-400 μm,以 5 μm 為步長)
離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV
荷電補(bǔ)償——雙束源
樣品處理——4 軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm **樣品厚度
真空系統(tǒng)——2 x 260 L/s 渦輪分子泵,用于進(jìn)樣室和分析室
可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™復(fù)合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M