粉體行業在線展覽
面議
711
高靈敏度XRF重金屬分析儀(HS XRF®)
一、概述
核心技術:
硬件:單色化聚焦技術HS XRF®
軟件:快速基本參數法Fast FP®
PHECDA-PRO
l硬件核心技術:單色化聚焦激發技術
全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線管出射譜中高強特征X射線,將入射到樣品的X射線單色化并聚焦到樣品一點,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發產生的熒光X射線和單色化入射譜線的散射線外,不存在連續散射背景,從而保證待測元素特征線具有極低的背景干擾。
單色化聚焦激發技術
l軟件核心技術:快速基本參數法
XRF法面臨的難題是基體效應、元素間吸收-增強效應、標準樣品欠缺等問題,對于不同類型樣品的定量分析帶來挑戰。
快速基本參數法(Fast FP®)通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算,將物理學明確的物理現象建立相應的數學模型,基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異,減少分析誤差,通過少數標準品的校正即可得到元素精確定量分析結果。 Fast FP快速基本參數法
二、應用領域與解決方案
高靈敏度XRF重金屬分析儀PHECDA與快速基本參數法聯用提供行業解決方案:
解決方案 | 解決問題 | 應用特點 | 應用領域 |
土壤無機元素分析 | l滿足《GB15618-2018 土壤環境質量農用地土壤環境污染風險管控標準》中重金屬限量值檢測要求 l滿足《GB36600-2018土壤環境質量建設用地土壤污染風險管控標準》中重金屬限量值檢測要求 l各類土壤與沉積物中60多種無機元素含量分析 | l優化鎘的檢出能力,土壤鎘的檢出限達到0.05mg/kg lFast FP算法消除土壤基體差異,達到土壤無機元素精確定量分析 | 環境監測、地質地礦、土壤檢測、大學科研 |
水質重金屬檢測 | l滿足地表水、地下水、生活飲用水、企業排污水等重金屬限值含量檢測 l環境水質污染事件重金屬含量現場快速檢測 | l**的重金屬富集膜片技術(HMET)與HS XRF聯用,將水質重金屬檢出限降低至1-2ug/L | 環境水質應急監測、環境水質現場檢測 |
固廢重金屬檢測 | l滿足固廢中23種有毒元素以及重金屬快速定量分析 l危廢鑒別-毒性元素含量分析 | lFast FP對各類固體廢物的基體自適應 l樣品處理簡單,快速定量分析 | 環境監測、環境司法鑒定、科學研究、固廢處理企業 |
PM2.5無機元素分析 | l滿足《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散X射線熒光光譜法》 l提供從PM2.5無機元素分析到污染源溯源數據分析 | lPM2.5膜片中三十幾種無機元素含量快速含量分析 lFast FP完成無標樣(或少標樣)情況下PM2.5膜片元素含量分析 | 環境監測、空氣污染源調查、科學研究 |
食品重金屬快速檢測 | l滿足《GB2762-2017食品安全國家標準食品中污染物限量》中部分食品重金屬限量值檢測要求 l水產品、肉類、調味品、水果蔬菜、糧食、茶葉等食品及其制品中鉛、鎘、砷、鉻、鎳、錫等重金屬含量檢測 | l提供全套食品前處理設備與方案,樣品處理簡單,檢測速度快 lFast FP軟件對各類食品基體的自適應 l與實驗室參比方法高度一致性 | 食品安全領域、公安系統食品安防、海關食品監管 |
礦石全元素分析 | l鐵礦石、鉛礦石、銅精礦、錳礦石等無機元素含量分析 l礦石中有害元素(鉛、砷、汞、鎘等)含量分析 l稀土元素含量分析 | l提供現場礦石元素含量整體解決方案 lFast FP算法對各類礦石產品的精確定量分析能力 | 地質、礦產、有色、海關 |
中藥重金屬含量檢測 | l滿足中國藥典規定的中藥重金屬(鉛、鎘、砷、銅)限量值含量檢測要求 | lFast FP算法對各類中藥基體的適應與背景扣除 l快速、簡單、精確 | 中藥行業 |
石化產品中金屬元素含量分析 | l滿足汽柴油產品中鐵、錳、鉛限量值含量檢測 l潤滑油、機油、汽柴油等各類油品中金屬元素含量分析 | l對石化產品中金屬元素檢出限達到0.1mg/kg水平 l二十多種金屬元素同步分析 | 石油化工 |
水泥窯協同處置 | l滿足環保和建材行業對水泥窯協同處置中規定的從生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金屬元素含量檢測 l水泥工業全元素(鈉、鎂、鋁、硅、鐵、鈣、氯等)含量分析,分析添加材對水泥質量影響的判斷 | lFast FP算法對各類樣品基體的自適應 l重金屬膜片富集技術(HMET)滿足水泥熟料浸出物中重金屬含量檢測 | 建材工業、水泥企業 |
三、特點優勢
高靈敏度XRF重金屬分析儀具備重金屬痕量檢測能力,快速基本參數法(Fast FP)提升了元素精確定量水平,兩項關鍵技術的結合,為XRF元素檢測帶來新的應用前景。
l單色化聚集激發技術
高靈敏度XRF重金屬分析儀采用雙曲面彎晶單色化器,優化元素的激發效率與減少X射線管連續散射線背景,提升元素熒光射線的信噪比。
l采用**性能SDD探測器
硅漂移探測器(SDD)是能量色散X射線熒光光譜儀的核心部件,其性能取決于晶體面積、**計數率、分辨率等,PHECDA 系列采用當今**性能的SDD探測器,確保元素分析性能。
lFast FP算法
XRF分析的困難點是元素熒光強度不僅與樣品中元素含量相關,也與其它元素含量有關,這就是所謂的基體吸收-增強效應,而這種物理效應,使得選擇合適的標準樣品成為困難,若選擇的標準樣品基體不一致、不能含蓋待測樣品的各元素含量范圍,就會對實際樣品分析帶來誤差。
基本參數法(Fundamental parameters method)通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算,建立相應的數學模型,基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異,減少分析誤差,通過少數標準品的校正即可得到元素定量分析結果。
l優化鎘元素檢出能力
鎘是有毒重金屬,在環境保護和食品安全等領域備受關注,常規XRF對鎘(Kα:23.1KeV)的激發和探測存在挑戰,高靈敏度XRF重金屬分析儀通過對鎘的單色化聚焦激發,對鎘的檢出限達到****的0.06mg/kg水平。
l便攜性
無需氣體、真空等輔助設備
**程度保證現場檢測要求
四、應用
l痕量元素檢出能力
單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀是安科慧生的**技術,依賴全聚焦性雙曲面彎晶單色化聚焦技術,提升元素信號強度的同時大幅降低散射線背景,大幅提升樣品元素信噪比,從而將XRF對元素分析延伸至微量和痕量應用領域。
l軟件精確定量能力
安科慧生科研人員歷時十幾年開發當今*為先進的快速基本參數法(Fast FP),其通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算,建立相應的數學模型,快速基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異,減少分析誤差,通過少數標準品的校正即可得到元素定量分析結果。
聲明:1.高靈敏度X射線熒光光譜儀是安科慧生***,任何侵權行為有可能訴訟法律解決;
2.詳細技術參數與應用,請隨時與安科慧生工作人員聯系!
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M