粉體行業在線展覽
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布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）
美國
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ContourGT-I 三維光學顯微鏡
全球首創的掃描頭傾斜自動樣品臺桌面型測量系統
ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成，將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活，優秀的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能。通過布魯克獨有的掃描頭傾斜技術，該系統可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化，從而輕松實現在一定角度內自動傾斜對表面特征進行測量。**一代的Vision64™ 軟件結合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性，更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品，在桌面型系統上實現了以往從未有過的各種特性。
實現更快，更簡便測量
? 自動光學傾斜測量頭
? 全自動X，Y， Z樣品臺
? 自動光鏡轉塔，放大鏡，和測試光選擇
更靈活而穩定的防震
? 集成式充氣式防震臺
? 高穩定度，空間節省
更強大的測量和分析
? 簡單明了，人性化的工作流程
? 實時自動優化測量
? 完整的數據分析軟件包
? 可定制的分析報告
測量高效
布魯克獨有的傾斜測量頭為用戶提供了極大的靈活性，實現快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結合頭部傾斜功能，布魯克這一技術實現了將觀察位置始終保持在焦平面處，為用戶實際使用時帶來了很大便利。
準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的，這樣在批量測試時速度也大大提高。
臺階高度準確性
這一特點結合樣品臺與物鏡的電動控制使得Contour GT-I 成為了具有較小占地卻能同時滿足多種測試要求的測量平臺。
業界*方便靈活的測量方式
除上述優點外，ContourGT-I通過獨有的設計直接在機臺上集成防震系統，使其直接滿足各種環境條件，包括工廠，實現迅速準確地測量。
這一經過嚴格測試的防震系統為用戶提供不折不扣
的優化測試條件，從而得到重復性**的定量數據。
布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯
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布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces
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