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核心技術：

**光學設計達到業界*低信噪比

**AI影像比對技術，漏檢率達到*低

結合光學及影像處理技術，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物

先進性：

采用**雙非球面鏡頭設計，搭配光學系統設計以及AI影像比對技術，顯著提升AOI設備3D檢測能力，Z軸解析度可達2um，漏檢率低至<0.3%。

技術完全自主，可根據客戶需求針對不同產品檢測做定制化設計，協助客戶達到高良率與**品質

簡介： 核心技術： **光學設計達到業界*低信噪比 **AI影像比對技術，漏檢率達到*低 結合光學及影像處理技術，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物  先進性： 采用**雙非球面鏡頭設計，搭配光學系統設計以及AI影像比對技術，顯著提升AOI設備3D檢測能力，Z軸解析度可達2um，漏檢率低至<0.3%。 技術完全自主，可根據客戶需求針對不同產品檢測做定制化設計，協助客戶達到高良率與**品質 

品牌： Honhor