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面議
869
漏電起痕試驗(yàn):在固體絕緣材料表面上規(guī)定的尺寸(2mm×5mm)鉑電極之間,施加一指定電壓,定時(shí)(30s)定高(35mm)滴下定體積的指定污染液(0.1%NH4CL)液滴,評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
漏電起痕測(cè)試的描述見 IEC60112 : 2003 《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》。是UL 746A 、 ASTM D 3638-92 、 DIN 53480 規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
CTI漏電起痕測(cè)試儀
用于評(píng)價(jià)固體絕緣材料的表面在一定電場(chǎng)和污染物存在條件下的耐受能力。測(cè)定依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)DIN EN 60 112和 VDE 0303 1執(zhí)行。
測(cè)試步驟參照KA(測(cè)試液滴的數(shù)量和高度),KB(測(cè)試液滴到50滴時(shí)的電壓)。
測(cè)定值用CTI(相對(duì)耐電痕指數(shù))和PTI(耐電痕指數(shù))來表示。
儀器通過測(cè)試電壓、電流、時(shí)間和液滴大小以及液滴數(shù)來保證極高的測(cè)試精確度。
儀器實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)操作。
測(cè)試電壓達(dá)600V。
時(shí)間間隔30s
XRD-晶向定位
CVD 真空化學(xué)氣相沉積設(shè)備
自動(dòng)劃片機(jī)
BTF-1200C-RTP-CVD
HSE系列等離子刻蝕機(jī)