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高溫電阻測試儀 CRA-3

技術(shù)特點

·適用于研究開發(fā)各種材料和薄膜材料電阻系數(shù)

·高級應(yīng)用程序控溫技術(shù)，包括溫差和測量步進等高級要求。

·自由升/降溫、精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量

·自動壓力安全保護設(shè)計，確保測試過程中不會發(fā)生爆炸

·試樣支架采用獨特的接觸式平衡機構(gòu)，保證測量的高重現(xiàn)性

·可選原片狀樣品測量系統(tǒng)

·可選高級數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差

全球甄選一流供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達到**！

CRA系統(tǒng)硬件組成：

美國吉時利 Keithley（數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)）

德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統(tǒng)）

英國摩根Morgan（高溫特種材料）

美國通用電氣GE（光波加熱元件）

瑞典康泰爾 Kanthal （加熱元件）

美國精量電子 MEAS（傳感器）

日本IKO （精密軸承）

日本住友Sumitomo （低溫制冷機系統(tǒng)）

測試性結(jié)構(gòu)圖

圓柱形或棱形樣品垂直放置在兩電極之間，同時整個測量系統(tǒng)設(shè)置于一個加熱爐內(nèi)。加熱爐加熱樣品到預(yù)定的溫度，在此溫度下，直流電四端法測量電阻，樣品兩端通入恒定電流，測量樣品的電壓變化，可以計算出電阻系數(shù)。

CRT技術(shù)參數(shù)