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藥物檢測(cè)專用儀器
新一代磁控濺射卷繞鍍膜設(shè)備
面議
中科唯實(shí)
新一代磁控濺射卷繞鍍膜設(shè)備
185
主要技術(shù)指標(biāo):
基材厚度:PET:10-125μm;PI:8-75μm
有效鍍膜幅寬:1300mm
6組濺射陰極,其中1組孿生陰極
純金屬濺射靶材利用率≥35%;反應(yīng)濺射靶材利用率≥30%;
真空抽率:卷繞室從大氣狀態(tài)到2×10-2Pa,需要時(shí)間≤35min
鍍膜室(清潔、空載)極限壓力:≤5×10-4 Pa;
卷繞室壓升率(清潔、空載):≤0.5Pa/hr(深冷冷阱工作)
放、收卷徑:400mm(**);放、收卷芯軸直徑:6 inch(150mm) ;
反饋控制:磁控濺射反饋補(bǔ)氣響應(yīng)時(shí)間≤45μs
鍍膜均勻性,重復(fù)性測(cè)試:在1250mm幅寬范圍內(nèi)濺射均勻性≤±3%
反應(yīng)濺射氣體反饋控制系統(tǒng)(可選):實(shí)現(xiàn)對(duì)反應(yīng)濺射的精細(xì)控制;
前處理:烘烤解熱和線性離子源
在線光學(xué)反射率傳感系統(tǒng)或歐姆測(cè)量傳感系統(tǒng)
張力控制范圍:0-500N ,控制精度:±1%
基膜走速:0.5—10米/分鐘
FJ1600G分子泵機(jī)組
FJ2000G分子泵機(jī)組
新一代磁控濺射卷繞鍍膜設(shè)備
磁控濺射箱式真空鍍膜機(jī)
電子束連續(xù)生產(chǎn)線
大型電子束箱式真空鍍膜設(shè)備
氟油平臺(tái)
Amsp-Ⅰ磁控濺射儀
SBC-2G多功能試樣表面處理儀
真空計(jì)
旋片式真空泵
泵體
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
合金分析儀
SHM1000
其他
NAI-ZLY-4/6C
CX-100
EMC-1
HMYX-2000
GPZT-JH10/4W
NJ-80型
X-300 X-FLUXER? 三位全自動(dòng)熔片儀
NVT-HG型 單晶生長(zhǎng)爐