粉體行業在線展覽
JMS-Q1600GC UltraQuad? SQ-Zeta 氣相色譜-四極桿質譜儀
面議
捷歐路
JMS-Q1600GC UltraQuad? SQ-Zeta 氣相色譜-四極桿質譜儀
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“Zeta” 第六代高端 GC-QMS 全新上市!
全新 JMS-Q1600GC UltraQuad? SQ-Zeta 是融合 JEOL 50 年 MS 技術及專業經驗的第六代 JEOL 高端氣相色譜四極桿質譜儀 (GC-QMS)。
SQ-Zeta 具有多種高級功能,可滿足各種測量及分析需求:從定量應用(如環境樣品、水質控制、農用化學品)到定性應用(如材料和香氣分析),是名副其實的**通用 GC-MS。
靈敏度高、動態范圍優異
1. IDL < 5 fg
使用標準 EI 離子源對 20 fg 八氟萘 (OFN) 進行了八次連續測量。
根據分子離子提取離子色譜圖的峰面積和重現性,計算儀器檢測極限 (IDL)。該系統的 IDL 為 2.6 fg。
寬動態范圍
使用標準 EI 離子源(SIM 模式)
測量濃度范圍為 0.005 至 1000 pg / uL 的 OFN。獲得了具有良好線性的校準曲線,測定系數為 0.999 或更佳。寬動態范圍(超過 5 個數量級)不僅可用于定量分析,還可用于不同濃度的復雜混合物的定性分析。
兩種獨特 EI 離子源 經擴展的分析解決方案!
1. 性能更強的離子源(EPIS,可選項):IDL < 1 fg
EPIS 有著業內**的高靈敏度,儀器檢測極限小于 1 fg(OFN 5 fg,八次測量)。 因此,EPIS 有著諸多優勢,包括:
? 痕量級定量分析
? 簡化樣品濃度分析,減少樣品導入量(減少污染)
? 定量測量方法可從 SIM 更換為 SCAN(簡化測量條件,可進行非目標分析)。
EPIS 不僅可用于定量分析,還可用于定性分析。
使用 EPIS 離子源對 5 fg 八氟萘 (OFN) 進行了八次連續測量。根據分子離子提取離子色譜圖的峰面積和重現性,計算儀器檢測極限 (IDL)。該系統的 IDL 為 0.6 fg。
2. 光電離 EI/PI 組合離子源(可選項)
光電離 (PI) 是一種采用真空紫外燈 (VUV)的軟電離方法。EI/PI 組合離子源可同時實現 EI(硬電離)和 PI(軟電離),無需移除離子源。只需打開 / 關閉 EI 燈絲和 PI 燈,便可以在 EI 和 PI 之間切換。
特點:? 無需更換離子源 ? 無需打破真空 ? 無需反應氣體 主要用于定性分析
使用 PI 時:燈:打開,燈絲:關閉
使用 EI 時:燈:關閉,燈絲:打開
EI/PI 組合離子源示意圖
例子:
聚苯乙烯泡沫的 Py/GC-MS 測量結果
芳烴化合物能夠強烈吸收紫外線,因此會被 PI 優先電離,由此實現對其分子離子的高靈敏度檢測。
全功能軟件
綜合定性分析軟件 “ msFineAnalysis iQ ”
打破僅依賴譜庫檢索進行定性分析的限制!綜合 EI 和軟電離數據,實現更高水平的定性分析!
面向 GC-TOFMS 的 msFineAnalysis 軟件一經推出便廣受好評,全新 msFineAnalysis iQ 在此基礎上將這種綜合定性分析功能擴展到了 GC-QMS 數據分析。
該軟件可自動將 EI 數據的庫檢索結果與軟電離數據的分子離子信息相結合,然后用顏色編碼表生成結果報告。與僅依賴譜庫數據庫檢索相比,這種將 EI 和軟電離結果相結合的方式提高了鑒定未知化合物的準確度。
msFineAnalysis iQ 可自動執行以下步驟:
1. 峰檢測(解卷積峰或 TIC 峰檢測)
2. EI 和 SI 數據的關聯(關聯)
3. 譜庫檢索 (EI)
4. 分子離子檢索 (SI)
5. 縮小譜庫檢索結果范圍(EI、SI 結合)
6. 綜合分析結果
與僅依賴譜庫數據庫檢索相比,將 EI 和 SI 與msFineAnalysis iQ 結合使用,可實現更高水平的定性分析結果。
※ msFineAnalysis iQ 為選配軟件
單一分析窗
JMS-Q1600GC UltraQuad? SQ-Zeta 氣相色譜-四極桿質譜儀
JMS-T100LP AccuTOF? LC-Express 飛行時間質譜儀
JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 高性能氣相色譜飛行時間質譜儀
JMS-S3000 SpiralTOF?-plus 2.0 基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀
JSM-IT500HR
JSM-7900F
JSM-7610FPlus
JSM-IT200 InTouchScope?
JCM-7000 NeoScope?
JSM-F100
JSX-1000S
JEM-ARM300F GRAND ARM
BELMASS II
BSD-MASS
Master 400
BELMASS
ZQJ-3000型
L820
HESZKAT800
EXPEC 5231
ICP-MS 2000系列
熱分析 - 四極桿質譜儀 QMS 403 Aёolos? Quadro 聯用
DEMS