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美國AST SE200BM/300BM系列橢偏薄膜分析儀

直接聯(lián)系

北京燕京電子有限公司

美國

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

986

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品簡介:

SE橢偏儀系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司,其可以實(shí)現(xiàn)薄膜厚度精準(zhǔn)測量,同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)12層的薄膜厚度測試,同樣對于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測量,為人們針對薄膜進(jìn)行分析提供了極大便利。

特點(diǎn):

· 易于安裝

· 基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件,很容易操作

· 先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì),以確保能發(fā)揮出**的系統(tǒng)性能

· 能夠自動的以0.01度的分辨率改變?nèi)肷浣嵌?/p>

· 高功率的DUV-VIS光源,能夠應(yīng)用在很寬的波段內(nèi)

· 基于陣列設(shè)計(jì)的探測器系統(tǒng),以確保快速測量

· *多可測量12層薄膜的厚度及折射率

· 能夠用于實(shí)時(shí)或在線的監(jiān)控光譜、厚度及折射率等參數(shù)

· 系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫

· 對于每個(gè)被測薄膜樣品,用戶可以利用先進(jìn)的TFProbe3.0軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進(jìn)行色散或者復(fù)合模型(EMA)測量分析;

· 三種不同水平的用戶控制模式:專家模式、系統(tǒng)服務(wù)模式及初級用戶模式

· 靈活的專家模式可用于各種獨(dú)特的設(shè)置和光學(xué)模型測試

· 健全的一鍵按鈕(Turn-key)對于快速和日常的測量提供了很好的解決方案

· 用戶可根據(jù)自己的喜好及操作習(xí)慣來配置參數(shù)的測量

· 系統(tǒng)有著全自動的計(jì)算功能及初始化功能

· 無需外部的光學(xué)器件,系統(tǒng)從樣品測量信號中,直接就可以對樣品進(jìn)行精確的校準(zhǔn)

· 可精密的調(diào)節(jié)高度及傾斜度

· 能夠應(yīng)用于測量不同厚度、不同類型的基片

· 各種方案及附件可用于諸如平面成像、測量波長擴(kuò)展、焦斑測量等各種特殊的需求

· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。

系統(tǒng)配置:

· 型號:SE200BM-M300

· 探測器:陣列探測器

· 光源:高功率的DUV-Vis-NIR復(fù)合光源

· 指示角度變化:手動調(diào)節(jié)

· 平臺:ρ-θ配置的自動成像

· 軟件:TFProbe 3.2版本的軟件

· 計(jì)算機(jī):Inter雙核處理器、19”寬屏LCD顯示器

· 電源:110–240V AC/50-60Hz,6A

· 保修:一年的整機(jī)及零備件保修

規(guī)格:

· 波長范圍:250nm到1000 nm

· 波長分辨率: 1nm

· 光斑尺寸:1mm至5mm可變

· 入射角范圍:0到90度

· 入射角變化分辨率:5度 間隔

· 樣品尺寸:**直徑為300mm

· 基板尺寸:*多可至20毫米厚

· 測量厚度范圍*:0nm〜10μm

· 測量時(shí)間:約1秒/位置點(diǎn)

· 精確度*:優(yōu)于0.25%

· 重復(fù)性誤差*:小于1 Ǻ

選項(xiàng):

· 用于反射的光度測量或透射測量

· 用于測量小區(qū)域的微小光斑

· 用于改變?nèi)肷浣嵌鹊淖詣恿拷瞧?/p>

· X-Y成像平臺(X-Y模式,取代ρ-θ模式)

· 加熱/致冷平臺

· 樣品垂直安裝角度計(jì)

· 波長可擴(kuò)展到遠(yuǎn)DUV或IR范圍

· 掃描單色儀的配置

· 聯(lián)合MSP的數(shù)字成像功能,可用于對樣品的圖像進(jìn)行測量

應(yīng)用:

· 半導(dǎo)體制造(PR,Oxide, Nitride..)

· 液晶顯示(ITO,PR,Cell gap... ..)

· 醫(yī)學(xué),生物薄膜及材料領(lǐng)域等

· 油墨,礦物學(xué),顏料,調(diào)色劑等

· 醫(yī)藥,中間設(shè)備

· 光學(xué)涂層,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

· 半導(dǎo)體化合物

· 在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜

· 非晶體,納米材料和結(jié)晶硅

應(yīng)用實(shí)例:

主要應(yīng)用于透光薄膜分析類領(lǐng)域:

l玻璃鍍膜領(lǐng)域(LowE、太陽能…)

l半導(dǎo)體制造(PR,Oxide, Nitride…)

l液晶顯示(ITO,PR,Cell gap...)

l醫(yī)學(xué),生物薄膜及材料領(lǐng)域等

l油墨,礦物學(xué),顏料,調(diào)色劑等

l醫(yī)藥,中間設(shè)備

l光學(xué)涂層,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

l半導(dǎo)體化合物

l在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜

l非晶體,納米材料和結(jié)晶硅

請與我們聯(lián)系以獲得詳盡的應(yīng)用實(shí)例......

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