粉體行業在線展覽
面議
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儀器簡介:
測量微區樣品為主的多用途X射線衍射儀,使用大面積面探測器IP。
技術參數
1. X射線發生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋轉陽極靶)
2. 使用大面積柱狀二維面探IP,466mm x 256mm
范圍為-60度 – +144度3. 一次收集2
4. 專用觀察樣品的CCD攝像頭
5. 準直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(選件10um)
6. 入射端前置單色器
7. 附件齊全
主要特點:
面探微區X射線衍射儀D/max RAPID可以測量無法成型的微小、微量、薄膜、液體等樣品。
主要的應用有:
1. 粉末樣品的物相定性
2. 薄膜樣品的物相分析
3. 織構分析
4. 應力分析
5. 纖維分析
6. 高溫測試
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M