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反射式膜厚測量儀

直接聯(lián)系

上海瞬渺光電技術(shù)有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

面議

關(guān)注度：

677

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品特點(diǎn)：

? 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。

? 高精度、高再現(xiàn)性測量紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n：折射率，k消光系數(shù)）。

? 寬闊的波長測量范圍。（190nm-1100nm）

? 薄膜到厚膜的膜厚測量范圍。（1nm~250μm）

? 對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距測量口徑。

產(chǎn)品規(guī)格：

	標(biāo)準(zhǔn)型		厚膜專用型
膜存測量范圍	1nm~40μm		0.8μm~250μm
波長測量范圍	190~1100nm		750~850nm
感光元件	PDA 512ch（電子制冷）	CCD 512ch（電子制冷）	PDA 512ch（電子制冷）
光源規(guī)格	D2（紫外線）、12（可見光）、D2+12（紫外-可見光）		12（可見光）
電源規(guī)格	AC 100V±10V 750VA（自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格）
尺寸	4810（H）×770（D）×714（W）mm（自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格之主體部分）
重量	約96kg（自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格之主體部分）

應(yīng)用范圍：

FPD

-LCD、TFT、OLED（有機(jī)EL）

半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體

-矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體鐳射、強(qiáng)誘電、介電常數(shù)材料

資料儲(chǔ)存

-DVD、磁頭薄膜、磁性材料

光學(xué)材料

-濾光片、抗反射膜

平面顯示器

-液晶顯示器、膜膜電晶體、OLED

薄膜

-AR膜

其他

-建筑用材料

測量范圍：

玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質(zhì)分析

產(chǎn)品咨詢

反射式膜厚測量儀

上海瞬渺光電技術(shù)有限公司

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