粉體行業(yè)在線展覽
F200C(S)TEM
面議
賽默飛
F200C(S)TEM
4972
Thermo Scientific Talos F200C(S)TEM是20-200 kV熱場(掃描)透射電子顯微鏡,專為細胞、細胞器、石棉、聚合物和軟材料等在環(huán)境溫度和低溫下的二維和三維成像而設計。
以其可選的、可伸縮的冷凍箱和低劑量技術提高了電子束敏材料的成像質(zhì)量。此外,可以在配置中添加側(cè)插式可伸縮能量色散光譜(EDS)探測器,以實現(xiàn)精確化學分析。超大間隙的C-Twin極靴提供了極高的應用靈活性,再加上超高穩(wěn)定性的電子鏡筒,為高分辨率三維表征、原位動態(tài)觀察和衍射應用提供了新的機會。Talos
F200C 尤為適合高襯度成像和低溫TEM應用。Talos F200C(S)TEM配備了快速 4k×4k Thermo Scientific
Ceta 16M相機,在64位平臺上提供大視場和高靈敏度快速成像。
產(chǎn)品參數(shù)
主要參數(shù) | |
TEM 信息分辨率 | 0.18 nm |
TEM 點分辨率 | < 0.30 nm |
STEM 分辨率 | 0.20 nm |
HRTEM 信息分辨率 | 0.18 nm |
HRTEM 線分辨率 | 0.10 nm |
HRSTEM 分辨率 | 0.20nm |
EDS立體角(sr) | 0.18/0.80 |
特點與用途
**的圖像
高襯度、高質(zhì)量TEM和STEM成像,可同時進行多信號檢測,*多可使用四通道集成STEM探測器。
高效率和再現(xiàn)性
超穩(wěn)定鏡筒和遠程操作與智能凸輪和恒功率物鏡的快速模式和HT開關。針對多用戶環(huán)境的快速、輕松切換
更多空間
大的極靴分析間隙、180°臺傾斜范圍和大的z范圍允許您添加層析成像樣品桿、原位樣品桿等
自動合軸
所有日常的TEM校正,如焦點、優(yōu)中心高度、中心光束偏移、中心聚光光闌和旋轉(zhuǎn)中心都是自動化的。
化學成分數(shù)據(jù)
靈活的能譜分析揭示了化學信息。
Ceta CMOS照相機
4k×4k Ceta CMOS相機的大視場使得在整個范圍內(nèi)以高靈敏度和高速度進行實時數(shù)字變焦成為可能。
Scios 2 DualBeam
Helios 5 Laser PFIB TEM
Helios 5 DualBeam FIB
Apreo 2
Axia ChemiSEM
Prisma E SEM
Quattro-
F200C(S)TEM
CleanMill
Murano 525
Talos F200X S/TEM
F200S G2 200kV
場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH