粉體行業(yè)在線展覽
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激光開封技術也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進行測試甚至修復實驗。與化學開封技術相比,激光開封更加高效,同時避免了減少強酸環(huán)境暴露。
基本原理:
封外殼,從而光學觀測或者電氣性能測試提供了可能性,以便于實現(xiàn)X射線等無損檢測無法實現(xiàn)的功能。
激光開封技術也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進行測試甚至修復實驗。與化學開封技術相比,激光開封更加高效,同時避免了減少強酸環(huán)境暴露。
應用領域:
去除半導體芯片的塑封外殼,PCB板截面切割,以及其它類似的破壞性物理試驗或失效分析場景。
產品優(yōu)勢:
來自德國的高精密激光掃描頭(SCANLAB)
激光脈沖寬度可調(1ns-250ns)
激光系統(tǒng)與CCD視覺系統(tǒng)同軸共焦,實時觀測激光掃描過程
可直接導入X-Ray或者超聲波掃描圖像,為復雜定點開封提供支持
強大的軟件功能,保證了定位、區(qū)域標定、聚焦、參數(shù)設定、條碼繪制等功能得以簡潔可靠地實現(xiàn)
高性能煙塵過濾系統(tǒng),自動震動防堵,可過濾98%以上0.3um直徑的環(huán)氧樹脂顆粒
技術參數(shù): | |||
型號 | GLOBAL ETCH II ML-20 | **掃描范圍 | 110mm x 110mm |
激光類型 | 單點/中心加壓 | 實時操作模式 | 同軸和共焦 |
激光波長 | 1064nm | 樣品尺寸 | 0.5mm - 70mm |
功率 | 20W | 激光壽命 | ≥ 80000小時 |
輸出功率范圍 | 1% ~ 100% | 設備安全等級 | Class I (互鎖) |
脈沖寬度 | 1ns-250ns | 煙塵過濾器 | 1.8kPa,0.3μ的顆粒 |
光束質量 | M2 ≤ 1.3 | 設備尺寸 | 700 x 1000 x 1700mm |
單次開封深度 | 0.01mm~2mm | 壓縮氣體 | 大于0.3MPa(同時吹吸,油水分離) |
開封速度 | ≥ 8000mm/s | 相機 | 1500萬像素彩色照相機 |
激光頻率 | 1Khz-2000Khz | 重量 | 150KG |
注:單位時間內激光出光的重復率所調節(jié)的能量范圍對于開銅線非常重要 |