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光譜反射儀（SR）系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。

SR 系列特征：

• 簡單易操作

• **系統性能基于先進的光學設計

• 基于陣列的探測器系統保證快速測量

• 測量薄膜厚度和折射率可達5層

• 允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜

• 可用于實時或在線厚度，折射率的監測

• 系統具有全面的光學常數數據庫

• 先進的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似（EMA）每個單獨的膜。

• 可升級到MSP（顯微分光光度計）系統，SRM映射系統，多通道系統，大點的·直接測量圖案或功能結構

• 適用于多種不同厚度的基材

• 各種附件可用于特殊配置，如運行曲線測量曲面

• 2D和3D輸出圖形和用戶友好的數據管理接口

光譜反射儀型號：